Anonim

La technologie actuelle à 65 nm est relativement facile à utiliser, mais des variations importantes sont introduites à 45 nm et au-dessous. Celles-ci peuvent nuire au rendement, à la fiabilité et à la consommation d'énergie des circuits numériques. La mémoire SRAM, par exemple, a été identifiée comme l'une des premières victimes potentielles, ce qui aura de graves répercussions sur les produits système sur puce et autres.

La première grande conférence internationale européenne consacrée à ce sujet vise à donner un aperçu approfondi de tous les problèmes liés à la variabilité des semi-conducteurs. Organisée par le National Microelectronics Institute (NMI), la conférence Variabilité: conception, fabrication, rendement et fiabilité a lieu le 23 octobre 2007 au Royal College of Physicians de Londres.